В рамках курсу «Безпека інформації та конкурентна розвідка в інженерії» студенти 1-го курсу магістратури кафедри радіотехніки та радіоелектронних систем пройшли спеціальну підготовку з основ зворотної інженерії. Лабораторні та практичні заняття проводились на базі декількох приватних компаній. Під час проведення даної роботи студенти мали змогу познайомитись з сучасними експериментальними методиками, що використовуються для розвідки в інженерії та поспілкуватись зі співробітниками лабораторій, всесвітньовідомими та сертифікованими закордоном фахівцями в даних галузях наук. Зокрема студентами за допомогою скануючого електронного мікроскопу Tescan MIRA 3 було експериментально проведено сканування поверхні, аналіз топології та отримано елементний склад декількох зразків мікросхем та матриць p-i-n діодів на базі монокристалів кремнію для новітніх систем зв’язку ( робоча частота конкретних зразків сягає порядку 50 ГГц ). Окрім цього магістри 1-го року навчання отримали практичні навики роботи з установкою для досліджень властивостей матеріалів методом раманівської спектроскопії ( виконана з комплектуючих компаній Coherent Inc. та Thorlabs Inc. ) та з ІЧ Фур’є спектрометром Nicolet iS50 від Thermo Fisher Scientific. Отримані знання та практичні навички в даній області знань є запорукою успішної кар’єри майбутніх випускників.
За можливість реалізувати подібну практику висловлюю щиру подяку Скорику Миколі Анатолійовичу та Краснєнкову Дмитру Сергійовичу.
В.А. Мойсеєнко
Фото 1. Студенти радіотехніки в лабораторії скануючої електронної мікроскопії (SEM) компанії Nanomedtech працюють зі скануючим електронним мікроскопом Tescan MIRA 3.
Фото 2. В процесі дослідження фізичних властивостей досліджуваних зразків методом раманівської спектроскопії. Лабораторна робота проходить на базі лабораторії оптики компанії Geron Inc.
Фото 3. Студенти здобувають практичні навички роботи з ІЧ-Фур’є спектрометром Nicolet iS50 від Thermo Fisher Scientific.
Спонсори:
