Колєнов Сергій Олександрович

Колєнов Сергій Олександрович1975 р. н., кандидат фізико-математичних наук, доцент

Закінчив 1998 Київ. ун-т, радіофізчний факультет, 2001 – асп-ру ун-ту. Працює в Київ. ун-ті з 2001 на посадах: інженер, мол. наук. співроб, 2004 – асист., 2011 – доцент каф. квантової радіофізики. Захистив 2003 канд. дис. “Аналіз викривлень хвильового фронту лазерним диференційно-фазовим методом” (наук. кер. – проф. В.В. Данилов). Осн. напрями наук. роботи: акустооптика, оптика, лазерна скануюча мікроскопія, цифрова обробка інформації, проектування радіоелектронних пристроїв, цифровий зв’язок. Вільно володіє ПЕОМ, багатьма мовами програмування та САПР електрон. техніки. Брав участь у розробці лазерних скануючих мікроскопів з акустооптичною розгорткою, лазерних систем персоналізації, лазерних проекційних систем та пристроїв лазерного гравіювання. Працював над питаннями застосування лазерних диференційно-фазових скануючих мікроскопів для дослідження та визначення параметрів широкого класу об’єктів в таких галузях як офтальмологія, машинобудівна промисловість та напівпровідникова електроніка.

Автор понад 70 публікацій, серед яких 5 патентів на винаходи. Осн. праці: Патент 2179328 С1 РФ, МКИ 7 G 02 B 21/00, G 01 B 11/30. Способ дифференциально-фазовой профилометрии и/или профилографии и устройство для его реализации / С. Н. Кияшко (РФ), Е. Н. Смирнов, Л. Н. Ильченко, С. А. Коленов, А. У. Стельмах (Украина) – № 2001116525/28; Заявлено 19.06.01; Опубл. 10.02.02, Бюл. №4; Особливості прояву інтермодуляційних ефектів при дифракції світла на двох акустичних хвилях в системах з гетеродинним детектуванням // УФЖ, 2002. Т. 47. № 8 ( у співавт.); Анализ дисперсионных характеристик фононных структур // ЖЭТФ, 2011, Том 139, №5 (у співавт.); Reduction of friction and wear by grooves applied on the nanoscale polished surface in boundary lubrication conditions // Nanoscale Research Letters, 2014, 9:226 (у співавт.); Comparison of obtain of phase photo-response images in case of scanning of semiconductor heterostructures in p-n junction perpendicular plane // Radioelectronics and Communications Systems, 2015, Vol. 58, № 4.