Родіонова Тетяна Василівна

Sorry, this entry is only available in Ukrainian. For the sake of viewer convenience, the content is shown below in the alternative language. You may click the link to switch the active language.

Родіонова Тетяна Василівна

1953 р. н., кандидат фізико-математичних наук, старший науковий співробітник

У 1975 закінчила радіофізичний факультет Київ. ун-ту, у 1986 закінчила спецф-т за спец. “Інтегральна та функціональна мікроелектронна техніка”Після закінчення працювала в НВО “Квант”, з 1978 – на каф. кріогенної та мікроелектроніки: старш. інж., мол. наук. співроб., наук., співроб, .старш. наук. співроб. (з 1991). Старш. наук. співроб. за спец. “Фізика напівпровідників та діелектриків”(2002). У 1988 захистила канд. дис. “Исследование строения и свойств поликристаллических пленок кремния и структур на их основе” (наук. кер. – проф. М.Г.Находкін).

Осн. наяпрм наук. діяльності пов’язаний з дослідженнями структури матеріалів методами просвічуючої електрон. мікроскопії, електронографiї та рентгенографiї. До найбільш важливих досягнень можно віднести: вивчення механiзмів структурних перетворень у нелегованих полiкремнiйових плiвках при вiдпалюваннi; дослідження характеристик вторинного росту зерен в плівках при вiдпалюваннi; встановлення наявності щільно пакованої гексагональної модифікації кремнію, аналіз процесів двійникування в плівках полікремнію.

Проводить лаб. роботи з курсу “Фіз. мiкроелектронiка”. Під її кер. виконана велика кількість курсових та дипломних робіт. Відп. секретар “Вiсника Київського унiверситету. Серія радіофізика та електроніка”, є чл. редколегії “Вiсника Київського унiверситету. Серія фізико-математичні науки”. До 175-річчя Київського національного університету імені Тараса Шевченка нагороджена Подякою Київського міського голови та Грамотою ректора КНУ імені Тараса Шевченка. Осн.праці: Formation of different types of polysilicon film structures and their grain growth under annealing // Phys. Stat. Sol.(a), 1991.V. 123, ¹ 2 (in co-athorship); Interface analysis in polysilicon thin films and poly-Si/SiO2 systems // Surface and Interface Analysis (SIA), 1992. V.18 (in co-athorship); The mechanism of secondary grain growth in polysilicon films // J. Cryst. Growth, 1997. V. 171, ¹ 1-2, (in co-athorship); Phase modifications in polysilicon films with fibrous and dendritic structure // Phase modifications in polysilicon films with fibrous and dendritic structure. (in co-athorship). Літ-ра: Радіофізичний факультет. 50 років: Довідник. К., 2002.